SDCOM的特点
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能够测量小至1mm的晶体到或更大的样品
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各种样品架及输送夹具，用于线锯、抛光等
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侧晶方向标记选项
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无水冷却
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**精度：0.01°(视晶体质量而定)
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确定单晶的完全晶格取向
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使用Omega扫描方法的超高速晶体定位测量
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气冷式X射线管，无需水冷
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适合于研究和生产质量控制
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手动操作(没有自动化选项)
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SDCOM的特点
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能够测量小至1mm的晶体到或更大的样品
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各种样品架及输送夹具，用于线锯、抛光等
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侧晶方向标记选项
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无水冷却
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**精度：0.01°(视晶体质量而定)
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确定单晶的完全晶格取向
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使用Omega扫描方法的超高速晶体定位测量
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气冷式X射线管，无需水冷
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适合于研究和生产质量控制
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手动操作(没有自动化选项)
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