低频介电常数介质损耗测试仪

概述GDAT-S是具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪，体积小，紧凑便携，便于上架使用。本系列仪器基本精度为0.05%，测试频率87高1MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口，能满足自动分选测试，数据传输和保存的各种要求。
介电常数介质损耗测试仪是一种用于测量介质材料介电常数和介质损耗的仪器。在电介质材料的应用中，介电常数和介质损耗是两个非常重要的参数，它们能够反映材料的介电性能和电性能。因此，介电常数介质损耗测试仪在材料科学、电子工程、通信工程等领域有着广泛的应用。
介电常数介质损耗测试仪的基本原理是通过测量电介质材料在交变电场下的响应来计算介电常数和介质损耗。在测试过程中，仪器会向电介质材料施加一个交变电场，并测量材料在该电场作用下的响应。通过分析这些响应，仪器可以计算出介电常数和介质损耗的值。
介电常数介质损耗测试仪的主要特点包括：
高精度测量：该仪器采用先进的测量技术和算法，能够实现高精度的介电常数和介质损耗测量。
自动化操作：该仪器具有自动化操作系统，用户可以通过简单的操作完成测试。
多功能化：该仪器不仅可以测量介电常数和介质损耗，还可以用于其他相关参数的测量。
可靠性高：该仪器采用稳定可靠的设计和材料，确保了测试结果的准确性和稳定性。
在材料科学领域，介电常数介质损耗测试仪主要用于研究材料的介电性能和电性能。通过该仪器的测试，研究人员可以深入了解材料的微观结构和介电性质之间的关系，为新材料的研发提供重要的实验依据。
在电子工程领域，介电常数介质损耗测试仪主要用于检测电子元件的性能。通过该仪器的测试，可以快速准确地评估电子元件的介电性能和电气性能，为电子产品的设计和生产提供重要的技术支持。
在通信工程领域，介电常数介质损耗测试仪主要用于研究无线通信设备的电磁波传播特性。通过该仪器的测试，可以深入了解电磁波在通信介质中的传播规律和衰减特性，为通信设备的优化设计提供重要的实验依据。
除了在材料科学、电子工程和通信工程等领域的应用外，介电常数介质损耗测试仪还可以应用于其他涉及电介质材料的领域，如电力工程、生物医学等。通过该仪器的测试，可以帮助相关领域的研究人员深入了解材料的介电性能和电性能，为相关领域的发展提供重要的技术支持。
总之，介电常数介质损耗测试仪是一种非常重要的实验仪器，广泛应用于多个领域。通过该仪器的测试，可以帮助研究人员深入了解材料的介电性能和电性能，为相关领域的发展提供重要的技术支持。随着科技的不断进步和应用需求的不断提高，介电常数介质损耗测试仪将会在未来发挥更加重要的作用。
性能特点4.3寸TFT液晶显示中英文可选操作界面87高1MHz的测试频率，10mHz分辨率
平衡测试功能变压器参数测试功能87高测试速度:13ms/次电压或电流的自动电平调整（ALC）功能V、I 测试信号电平监视功能内部自带直流偏置源可外接大电流直流偏置源10点列表扫描测试功能30Ω、50Ω、100Ω可选内阻内建比较器，10档分选和计数功能内部文件存储和外部U盘文件保存测量数据可直接保存到U盘RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口
技术参数显示器:480×RGB×272，4.3寸TFT LCD显示器。测试信号频率：20Hz—1MHz87小分辨率：10mHz，4位频率输入准确度：0.01%AC电平测试信号电压范围：10mV—2Vrms电压87小分辨率:100μV，3位输入准确度ALC ON 10% x设定电压 + 2mVALC OFF 6% x设定电压 + 2mV测试信号电流范围：100μA—20mA电流87小分辨率：1μA，3位输入
准确度ALC ON 10% x设定电流 + 20μAALC OFF 6% x设定电压 + 20μADC偏置电压源电压 / 电流范围：0V—±5V / 0mA—±50mA分辨率：0.5mV / 5μA电压准确度：1% x设定电压 + 5mVISO ON：用于电感、变压器加偏置测试AC源内阻ISO ON：100ΩISO OFF：30Ω、50Ω、100Ω可选DCR源内阻：30Ω、50Ω、100Ω可选阻抗测试参数：|Z|, |Y|, C, L, X, B, R, G, D, Q,θ, DCR, Vdc-Idc测试页面参数显示：一组主、副参数；10点列表扫描变压器测试参数：DCR1(初级，2端), DCR2（次级，2端），M（互感），N，1/N,Phase(相位), Lk(漏感)，(初、次级电容)，平衡测试.
基本测量准确度阻抗测试参数:0.05%N:0.1%校准条件预热时间：≥30分钟；环境温度：23±5oC；信号电压：0.3Vrms-1Vrms；清“0”：OPEN、SHORT后；测试电缆长度：0 m测量时间(≥10 kHz):快速: 13 ms /次，中速: 67 ms/次，慢速: 187 ms/次，另加显示字符刷新时间LCR参数显示范围| Z | , R ,X，DCR：0.00001Ω — 99.9999MΩ|Y|,G,B：0.00001μs — 99.9999sC：0.00001pF — 9.99999FL：0.00001μH — 99.9999kHD：0.00001 — 9.99999Q：0.00001 — 99999.9θ(DEG)：-179.999o — 179.999oθ(RAD)：-3.14159 — 3.14159Δ%：-999.999% — 999.999%等效电路：串联, 并联量程方式：自动, 保持触发方式：内部, 手动, 外部, 总线平均次数：1－256.
校准功能：开路, 短路全频、点频校准， 负载校准数学运算：直读, ΔABS, Δ%延时时间设定：0 -- 999, 87小分辨率100us比较器功能10档分选，BIN1～BIN9、NG、AUX档计数功能
PASS、FAIL前面板LED显示.
列表扫描10点列表扫描可对频率、AC电压/电流、内/外DC偏置电压/电流进行扫描测试每扫描点可单独分选内部非易失性存储器：100组LCRZ仪器设定文件，201次测试结果外部USB存储器GIF图像LCRZ仪器设定文件测试数据USB存储器直接存储
接口I/O接口：HANDLER，从仪器后面板输出串行通讯接口：USB、RS232C并行通讯接口：GPIB接口（选件）网络接口：LAN存储器接口：USB HOST（前面板）偏置电流源控制接口DCI
使用DCI接口可控制外部直流偏流源，偏置电流87大可达120A。
选件，DCI与GPIB 只能2者选1通用技术参数工作温度, 湿度：0℃－40℃, ≤ 90%RH
电源电压：220V±20%，50Hz±2Hz功耗87大80VA体积(W×H×D)： 280 mm × 88 mm × 370 mm(无护套)，369 mm × 108 mm × 408 mm(带护套)。重量：约5kg

面板介绍GDAT-S前面板简介商标及型号：仪器商标及型号[COPY]键：图片保存键，保存测试结果图片到USB 存储器。[MEAS]菜单键：按[MEAS]键，进入仪表测量功能相应的测试显示页面。[SETUP]菜单键：按[SETUP]键，进入仪表功能设置和相应的测试设置页面。
[SYSTEM]菜单键：按[SYSTEM]键，进入系统设置页面。
数值键：数值键用于向仪器输入数据。数值键由数字键[0]至[9]，小数点[.]和[+/-]键组成。
[ESC]键：退出键。[←]键：BACKSPACE 键。按此键删除输入数值的87后一个数字。PASS 指示灯：测试判断合格LED 指示FAIL 指示灯：测试判断不良LED 指示[RESET]键：按[RESET]键,仅在变压器自动扫描时终止扫描，其他页面仪器不执行任何操作。
[TRIGGER]键：当仪器触发方式设定为 MAN (手动)模式时，可按该键手动触发仪器。[ENTER]键：[ENTER]键用于终止数据输入，确认并保存输入行（LCD 87下面一行）显示的数据。测试端（UNKNOWN）：四端测试端，用于连接四端测试夹具或测试电缆，对被测件进行测量。
电流激励高端(Hcur)；电压取样高端(Hpot)；电压取样低端(Lpot)；电流激励低端(Lcur)。
机壳接地端：该接线端与仪器机壳相连。可以用于保护或屏蔽接地连接。光标键 (CURSOR)：光标键用于在LCD 显示页面的域和域之间移动光标。当光标移动到某一域，该域在液晶
显示屏上以加亮显示。
软键：六个软键可用于选择控制和参数，每个软键的左方都有相应的功能定义。软键定义随显示页面不同而改变。记录键 (LOG)：此键在MEAS 界面插入U 盘后自动记录测试数据，于SYSTEM 保存系统设置。
LCD 液晶显示屏：800x480 彩色TFT LCD 显示屏，显示测量结果，测量条件等。电源开关(POWER)：电源开关。[DC BIAS]键：[DC BIAS]键用于允许或禁止0-100mA/10V 直流偏置电源输出。按[DC BIAS]键，[DCV BIAS]
按键会被点亮，表示允许直流偏置输出；再次按[DC BIAS]键，[DC BIAS] 按键会熄灭，
表示禁止直流偏置输出。在有些无法加DC BIAS 的非测试画面，按此键将无反应。
[KEYLOCK]键：按[KEYLOCK]键，[KEYLOCK]按键会被点亮，表示当前面板按键功能被锁定；再次按[KEYLOCK]键, [KEYLOCK]按键会熄灭，表示解除键盘锁定状态。如果口令功能设置为“ON”，解除键盘锁定时需输入正确的口令，否则无法解除键盘锁定。当仪器受到RS232 控制时[KEYLOCK]按键会被点亮。再次按[KEYLOCK]键, [KEYLOCK]按键会熄灭，表示回到本地解除键盘锁定状态。
USB HOST 接口：用于连接U 盘存储器,进行文件的保存与调用。[DC SOURCE]键：[DC SOURCE]键,此功能键预留，以便将来扩展使用。
GDAT-S后面板简介LAN 接口：网络接口，实现网络系统的控制与通讯。USB DEVICE 接口：USB 通讯接口，实现与电脑的联机通讯。
RS232C 串行接口：串行通讯接口，实现与电脑的联机通讯。HANDLER 接口：HDL 接口，实现测试结果的分选输出。
IEEE-488 接口(选购件)：GPIB 接口，实现与电脑的联机通讯。
     实验室TOC总有机碳离线分析仪
     http://www.qsjx.com.cn/goods/show-49397.html
     BDJC-50kV耐电压强度击穿试验仪
     http://www.qsjx.com.cn/goods/show-49922.html
     高压西林电桥介电常数测试仪BQS
     http://www.qsjx.com.cn/goods/show-50184.html
     直角形冲片机制样机厂家直销
     http://www.qsjx.com.cn/goods/show-50362.html
     抗弯强度试验机北广精仪供应
     http://www.qsjx.com.cn/goods/show-50835.html
     BQS-2600气泡点测试仪
     http://www.qsjx.com.cn/goods/show-51416.html
低频介电常数介质损耗测试仪由北京北广精仪仪器设备有限公司提供，该企业负责低频介电常数介质损耗测试仪的真实性、准确性和合法性。本站对此不承担任何保证责任。